反射率測量裝置MSP-100在光學(xué)薄膜上的運用

發(fā)布日期：2024-04-01      瀏覽次數(shù)：679

反射率測量裝置MSP-100在光學(xué)薄膜上的運用

光學(xué)薄膜的光學(xué)性質(zhì)和功能是通過干涉作用改變光在光學(xué)元件表面的特性，獲得所需要的反射率或者透過率。

“測試方法"是光學(xué)薄膜制備中極為重要的一環(huán)，它的評價和反饋機制保證了產(chǎn)品的最終光學(xué)性能，其中最為基本和關(guān)鍵的是反射率和透過率測試。本期主要為大家介紹光學(xué)薄膜的反射率測試。

反射率測量裝置MSP-100

以未有的低成本實現(xiàn)微小區(qū)域、曲面和超薄樣品的高速、高精度測量



• 通過使用特殊的半反射鏡，可以切斷背面反射的光，無需背面處理即可在短時間內(nèi)進行精確測量。
  （可測量 0.2 mm 薄板的反射率：使用 ×20 物鏡時）

• 還可以測量鏡片曲面和涂層不均勻度。（在樣品表面連接微小點（φ50μm））

• 即使是低反射率的樣品也可以在短時間內(nèi)進行測量，并且具有高重復(fù)性。（光學(xué)設(shè)計捕獲最大量的光，并通過512元件線性PDA、內(nèi)置16位A/D轉(zhuǎn)換器和USB 2.0接口實現(xiàn)高速計算實現(xiàn)快速測量。）

• 可以進行色度測量和L*a*b*測量。可以使用光譜比色法根據(jù)光譜反射率來測量物體。

• 數(shù)據(jù)可以以 Microsoft Excel(R) 格式保存。

• 單層薄膜可以非接觸式、非破壞性地測量。

• 具有在同一屏幕上顯示多個測量結(jié)果的功能。輕松比較測量結(jié)果。

規(guī)格

型號	MSP-100
測量波長	380～1050nm
測量重復(fù)性	±0.2%(380-450nm) ±0.02%(451-950nm) ±0.2%(951-1050nm)
樣品面 NA	NA 0.12（使用 10 倍物鏡時）
樣品測量范圍	φ50μm（使用10倍物鏡時）
樣品曲率半徑	-1R~-無窮大, +1R~無窮大
顯示分辨率	1納米
測量時間	幾秒到十幾秒（取決于采樣時間）
外形尺寸	(寬)230×(高)560×(深)460mm（僅機身）
工作溫度限制	18～28℃
工作濕度	60%以下（無凝露）