日本yamabun用于質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的測(cè)厚儀資料

發(fā)布日期：2022-02-28      瀏覽次數(shù)：1029

日本yamabun用于質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的測(cè)厚儀資料




離線式測(cè)厚儀是臺(tái)式緊湊型測(cè)厚儀。將薄膜或片材切成條狀并測(cè)量。由于測(cè)量是在自動(dòng)運(yùn)輸?shù)耐瑫r(shí)進(jìn)行的，因此任何人都可以輕松快速地進(jìn)行測(cè)量，并且不受測(cè)量者技能的影響是一大特點(diǎn)。
常用于質(zhì)量控制部門(mén)和研發(fā)應(yīng)用。此外，由于測(cè)量的圖形可以以環(huán)形顯示，因此經(jīng)常用于充氣膜的制造現(xiàn)場(chǎng)。


型號(hào)：TOF-4R05






測(cè)量方法

線規(guī)/夾取法

• 測(cè)量對(duì)象

• 薄膜、片材

• 測(cè)量厚度

• 0.03 至 3 毫米

型號(hào)：TOF-5R01







• 測(cè)量方法

  線性規(guī)

• 測(cè)量對(duì)象

• 這個(gè)電影

• 測(cè)量厚度

• 0.02-0.2毫米

型號(hào)：TOF-6R001




測(cè)量方法

線性規(guī)

• 測(cè)量對(duì)象

• 薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亞胺薄膜、光學(xué)薄膜等）

• 測(cè)量厚度

• 5-100微米

型號(hào)：TOF-C2 * TOF-C的后繼型號(hào)




• 測(cè)量方法

• 非接觸式
  電容式

• 測(cè)量對(duì)象

• 薄膜、粘性保護(hù)膜、易附著灰塵的薄膜

• 測(cè)量厚度

• ~ 500 微米

型號(hào)：TOF-S




• 測(cè)量方法

• 非接觸式
  光譜干涉儀

• 測(cè)量對(duì)象

• 電子、光學(xué)用透明平滑膜、多層膜

• 測(cè)量厚度

• 1 至 50 μm（用于薄材料）
  10

至 150 μm（用于厚材料）　　　　

型號(hào)：TOF-M




測(cè)量方法

線性規(guī)

• 測(cè)量對(duì)象

• 鋼板、鋁板等金屬板

• 測(cè)量厚度

• 0.1-0.5毫米