臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S

訪問次數(shù)：1425

更新日期：2025-05-02

簡要描述：

日本YAMABUN山文電氣臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S
實(shí)現(xiàn)高測量重復(fù)性（± 0.01 μm 或更小，取決于對象和測量條件）
不易受溫度變化的影響
可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線式和在制造過程中使用的在線式。
反射型允許從薄膜的一側(cè)進(jìn)行測量
僅可測量透明涂膜層（取決于測量條件）

詳細(xì)介紹

類型	數(shù)字式	測量范圍	1

日本YAMABUN山文電氣臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S

產(chǎn)品特點(diǎn)

實(shí)現(xiàn)高測量重復(fù)性（± 0.01 μm 或更小，取決于對象和測量條件）
不易受溫度變化的影響
可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線式和在制造過程中使用的在線式。
反射型允許從薄膜的一側(cè)進(jìn)行測量
僅可測量透明涂膜層（取決于測量條件）
模型飛行時間
測量方法非接觸式/光譜干涉式
測量對象電子和光學(xué)用透明平滑膜、多層膜
測量原理光譜干擾型
日本YAMABUN山文電氣臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S

模型	飛行時間
測量方法	非接觸式/光譜干涉式
測量對象	電子和光學(xué)用透明平滑膜、多層膜
測量原理	光譜干擾型

產(chǎn)品規(guī)格

測量厚度	1～50μm（薄材料）、10～150μm（厚材料）
測量長度	50-5000 毫米
測量間距	1 毫米 ~
小顯示值	0.001微米
電源電壓	AC100 V 50/60 Hz
工作溫度限制	5～45℃（測量時溫度變化1℃以內(nèi)）
濕度	35-80%（無冷凝）
測量區(qū)域	φ0.6 毫米
測量間隙	約 30 毫米

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細(xì)地址：
補(bǔ)充說明：
驗(yàn)證碼：

請輸入計算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

上一篇：軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2
下一篇：適用于鋼板和鋁板等的臺式測厚儀TOF-M

99久久婷婷国产综合精品草原,日韩AV色导航,日本无码96国产99高清,av.con黄

臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S

產(chǎn)品特點(diǎn)

產(chǎn)品規(guī)格

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細(xì)地址：

補(bǔ)充說明：

驗(yàn)證碼：